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音頻芯片中的信號(hào)是模擬的，如同在電腦上輸出的line信號(hào)，經(jīng)過功放后可以驅(qū)動(dòng)喇叭。模擬音頻信號(hào)經(jīng)過ADC采樣為數(shù)字音頻信號(hào)，再通過編碼壓縮減少數(shù)據(jù)量，壓縮成數(shù)字音頻信號(hào)。同理，也可以通過DAC還原成最原始的模擬音頻信號(hào)。

隨著數(shù)字信號(hào)處理技術(shù)和數(shù)字電路工作速度的提高，以及對(duì)于系統(tǒng)靈敏度等要求的不斷提高，對(duì)于高速、高精度的ADC指標(biāo)都提出了很高的要求。

ADC芯片的性能測試是由芯片生產(chǎn)廠家完成的，這時(shí)，就需要進(jìn)行ADC測試來驗(yàn)證芯片在板級(jí)或系統(tǒng)級(jí)應(yīng)用上的真正性能指標(biāo)。

首先，我們來普及個(gè)概念，也就是什么是ADC。

ADC稱為模數(shù)轉(zhuǎn)換器（簡稱A/D轉(zhuǎn)換器或ADC，analog-to-digital converter），A/D轉(zhuǎn)換的作用是將時(shí)間連續(xù)、幅值也連續(xù)的模擬量轉(zhuǎn)換為時(shí)間離散、幅值也離散的數(shù)字信號(hào)。一句話概括：ADC是模數(shù)轉(zhuǎn)換器，是模擬量轉(zhuǎn)數(shù)字量，也就是模擬量輸入。

ADC的主要指標(biāo)分為靜態(tài)指標(biāo)和動(dòng)態(tài)指標(biāo)2大類。 靜態(tài)指標(biāo)主要有：

Differential Non-Linearity (DNL)

Integral Non-Linearity (INL)

OffsetError

FullScale Gain Error

動(dòng)態(tài)指標(biāo)主要有：

Totalharmonic distortion (THD)

Signal-to-noise plus distortion (SINAD)

Effective Number of Bits (ENOB)

Signal-to-noise ratio (SNR)

Spurious free dynamic range (SFDR)

要進(jìn)行ADC這些眾多指標(biāo)的驗(yàn)證，基本的方法是給ADC的輸入端輸入一個(gè)理想的信號(hào)，然后對(duì)ADC轉(zhuǎn)換以后的數(shù)據(jù)進(jìn)行采集和分析，因此，ADC的性能測試需要多臺(tái)儀器的配合并用軟件對(duì)測試結(jié)果進(jìn)行分析。下圖是一個(gè)典型的ADC測試圖。

我們不忙著展開，在此之前，我們先了解下ADC測試的相關(guān)客戶群和關(guān)注的測試重點(diǎn) 。 ADC測試相關(guān)客戶群 第一類是傳統(tǒng)ADC廠商，其將模擬信號(hào)單純轉(zhuǎn)換為二進(jìn)制的數(shù)值。這類廠商的測試比較復(fù)雜，測項(xiàng)包含靜態(tài)指標(biāo)和動(dòng)態(tài)指標(biāo)。

對(duì)于第一類客戶，即傳統(tǒng)ADC廠商，這類客戶通常關(guān)注的是信號(hào)源的指標(biāo)，比如：
1. 期望的底噪，或THD+N，或SNR相關(guān)指標(biāo)需求。
2. 提供交流信號(hào)時(shí)，是否需要額外添加直流偏置電壓。

第二類則是音頻類ADC廠商，其將模擬信號(hào)最終轉(zhuǎn)換為特定音頻格式的數(shù)字信號(hào)（如PDM，I2S，TDM等）此類客戶主要是音頻Codec廠商，其也會(huì)有DAC的測試需求。

順帶提一句，DAC的作用是和 ADC 相反，是把數(shù)字量轉(zhuǎn)換成模擬量，雖然有模擬和數(shù)字的區(qū)別，但是DAC要測試的主要指標(biāo)與ADC類似，也分為靜態(tài)指標(biāo)和動(dòng)態(tài)指標(biāo)2種。 靜態(tài)指標(biāo)主要有：

Differential Non-Linearity (DNL)

Integral Non-Linearity (INL)

OffsetError

FullScale Gain Error

Conversion Rate

Settling Time

Rising/Falling Time

動(dòng)態(tài)指標(biāo)主要有：

Totalharmonic distortion (THD)

Signal-to-noise plus distortion (SINAD)

Effective Number of Bits (ENOB)

Signal-to-noise ratio (SNR)

Spurious free dynamic range (SFDR)

對(duì)于第二類客戶，通常關(guān)注點(diǎn)是：
1. 期望的底噪，或THD+N，或SNR相關(guān)指標(biāo)需求。
2. 是否支持某種特定數(shù)字格式。
3. 針對(duì)數(shù)字信號(hào)部分，如何建立與AP模塊的連接（如用到我們AP測試設(shè)備）
話說，這類芯片相關(guān)的終端用戶需求，AP同樣可以完成，例如喇叭，麥克風(fēng) 測試等等。

AP設(shè)備對(duì)于ADC測試的優(yōu)勢
我們還是分第一類和第二類客戶來展開。

對(duì)于第一類客戶，即傳統(tǒng)ADC廠商，AP分析儀主要作用是提供高質(zhì)量的「信號(hào)源發(fā)生器」。
第1點(diǎn) · 良好的THD+N性能
- APx 555B -