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醫(yī)患求助系統(tǒng)廠家 電源測試——白盒測試

2023-10-21 10:49

1 輔助電源測試 測試說明:
電源中輔助電源有重要意義,電源模塊的正常工作靠輔助電源來保障,輔助電源工作要比主電路要求更可靠,因為即使在輸入電壓超限的條件下,輔助電源還要正常工作,以實現(xiàn)正常的保護邏輯,而且功率器件的驅(qū)動,控制芯片的工作都要靠輔助電源來保障,因此,對輔助電源的要求是:無論在動態(tài)的情況下還是在靜態(tài)的情況下,必須穩(wěn)定可靠,輸出電壓穩(wěn)定,以滿足控制和通訊電路的要求。測試工作中要充分關(guān)注輔助電源。
測試方法:
輔助電源要關(guān)注以下幾個問題:
A、啟動電阻設計是否合理,限流電阻(輔助電源的輸入與高壓直流母線排串聯(lián)的電阻)設計是否合理;
B、靜態(tài)的情況下,輔助電源的電壓是否在全電壓、負載內(nèi);
C、大動態(tài)的情況下,輔助電源是否正常;
D、啟動過程中輸出電壓是否出現(xiàn)過沖,384X Isence端及驅(qū)動波形是否異常;
E、輸出電壓波形監(jiān)測;
F、開關(guān)管的電應力測試;
G、輔助電源的溫度應力測試;
H、芯片的工作主要參數(shù),如工作電壓、功耗等。
針對這些問題,需要測試相應項目:
A、啟動電阻和限流電阻測試
啟動電阻的功率降額必須滿足設計要求,計算功率的公式為:
P=(Bmax-V1)/R,其中Vmax為輔助電源在各種情況下最大的輸入電壓,V1為輔助電源控制芯片(UC384X)正常工作電壓,計算出來的功率不能超過選用的啟動電阻的功率,同時啟動電阻的溫升必須滿足降額要求。在最高的環(huán)境溫度、輔助電源最高的輸入電壓Vmax下,正常工作時,啟動電阻的最高溫度(溫度穩(wěn)定以后)不超過120oC(15oC的降額,135oC-15oC=120oC),如果在常溫下測試,測試溫升需要轉(zhuǎn)換到最高工作環(huán)境溫度。
限流電阻的功率也要滿足降額的要求,用示波器測試正常情況下,滿載開機,滿載關(guān)機情況下電阻兩端的電壓波形,通過電壓波形,測試出電阻兩端的電源有效值,根據(jù)有效值計算電阻的功率,要求功率在開機和關(guān)機以及正常情況下要滿足降額要求。
B、靜態(tài)的情況下,輸出電壓范圍測試
測試模塊輸入電壓分別為Vinmin,Vinnom,Vinmax和輸出Iomin,Ionom、Iomax,輸出限流點,輸出深度限流狀態(tài)下的輔助電源每一路輸出電壓,要求每一路輸出電壓在每一種情況下都保持穩(wěn)定,而且能夠滿足控制回路和通訊回路的可靠工作要求(注意:Vinmin為輔助電源剛剛開始工作的電壓,Vinmax為模塊輸入過壓保護后的電壓,過壓保護和欠壓保護以后,模塊都能正常工作)。
C、動態(tài)的情況下,輔助電源輸出電壓范圍:
用AC SOURCE調(diào)節(jié)模塊的輸入電壓和輸出負載同時跳變(輸入電壓在最高電壓和最低輸入電壓之間跳變,跳變時間為50ms,輸出從空載到滿載跳變,跳變時間為5ms,tr和tf設置為20us對應1A),在這種情況下,測試輔助電源各路輸出電壓,要求每一路輸出電壓都能保持穩(wěn)定,而且能夠滿足控制回路和通訊回路的可靠工作要求。
D、關(guān)鍵點波形測試:
分別在輸入過壓點-5V、欠壓點+5V啟動時測試輸出電壓波形,3844 Isence端及開關(guān)管驅(qū)動波形,監(jiān)測是否出現(xiàn)輸出電壓過沖、開關(guān)管過流及開關(guān)管驅(qū)動端波形異常等情況。同時在各種動態(tài)的情況下(包括輸入動態(tài),輸出動態(tài)的情況下),各個關(guān)鍵點的波形測試。
E、輸出電壓紋波測試:
輸出額定線形負載情況下,用測試電壓紋波的方法測試輸出電壓波形,其紋波P-P值應小于5%輸出電壓。
判斷標準:
以上測試項目作為檢測輔助電源性能的測試。啟動電阻溫升正常,未出現(xiàn)開關(guān)管電流及驅(qū)動波形異常,在工作范圍內(nèi)輔助電源電壓正常,在異常電壓輸入范圍輔助電源正常(在電源能夠?qū)崿F(xiàn)保護的范圍內(nèi)正常),合格;否則不合格。 2 驅(qū)動電路的測試 測試說明:
功率器件的驅(qū)動技術(shù)是電源可靠性的重要保障,好的驅(qū)動方式能夠?qū)崿F(xiàn)有效的開通和關(guān)斷,高效率,低的EMI干擾,快速實現(xiàn)功率器件的保護等功能,測試中應對功率管驅(qū)動進行測試,為了防止由于探頭引起的影響,測試中用應采用差分隔離探頭(或采用一般的探頭,同時示波器的電源用隔離變壓器隔離),并注意以下問題:
A、驅(qū)動電路分析;
B、驅(qū)動電壓;
C、驅(qū)動波形;
D、瞬態(tài)情況下驅(qū)動波形;
F、驅(qū)動芯片的電壓,如起機過程中的芯片供電電壓等。
  測試方法:
   (1)驅(qū)動電路分析
審核驅(qū)動電路方式,無論變壓器隔離驅(qū)動和集成IC驅(qū)動,驅(qū)動電阻應滿足推薦要求,如果采用加速電容或快速關(guān)斷方式時應評估其作用,負壓關(guān)斷時應確認其影響,一般情況下GS應有穩(wěn)壓管,分析驅(qū)動電路,確認電路設計合理性。
   (2)驅(qū)動電壓
目前,公司的大部分的開關(guān)管都是使用MOSFET或IGBT,MOSFET和IGBT的驅(qū)動都是使用電壓方式,高的驅(qū)動電壓會擊穿柵極,測試在空載、半載、滿載、限流狀態(tài)、空載滿載跳變、空載到限流跳變、空載到深度限流跳變(所有的負載跳變條件為:跳變時間5ms,tr和tf為1A對應20us),空載到短路及輸入電壓為最低、額定、最高,從最高電壓到最低電壓跳變(跳變時間為50ms)條件下的驅(qū)動波形,要保證驅(qū)動電壓低于規(guī)定電壓,一般峰值應小于20V,同時注意驅(qū)動電壓要滿足飽和驅(qū)動。
   (3)驅(qū)動波形
測試在空載、輕載、半載、滿載、限流狀態(tài)、空載滿載跳變、空載到限流跳變、空載到深度限流跳變(所有的負載跳變條件為:跳變時間5ms,tr和tf為1A對應20us),空載到短路及輸入電壓為最低、額定、最高,從最高電壓到最低電壓跳變(跳變時間為50ms)條件下的驅(qū)動波形,波形的上升和下降沿應平滑,且滿足效率和EMI要求(上升時間較快,管子的開通損壞小,但是電壓尖鋒較高,EMI會較大),開通中不應有下跌,關(guān)斷后不會出現(xiàn)尖沖,死區(qū)時間滿足設計要求。
對比PWM芯片輸出波形和驅(qū)動波形,確認驅(qū)動波形和PWM輸出波形一致。
    (4)驅(qū)動回路
功率器件(MOSFET和IGBT)驅(qū)動電源要求低的阻抗特性,驅(qū)動回路面積盡可能小,驅(qū)動線盡量短,且驅(qū)動回路必須與功率回路分開。
    (5)瞬態(tài)狀態(tài)下的波形
在瞬態(tài)條件下,如開關(guān)機、輸出突加負載、突減負載,由限流態(tài)到穩(wěn)壓態(tài)的轉(zhuǎn)換,從穩(wěn)壓到限流態(tài)的轉(zhuǎn)換,輸出短路,短路開機,輸出短路放開的情況下驅(qū)動正常。由保護到恢復的過程中,驅(qū)動正常,波形的上升和下降沿應平滑,開通中不應由下跌,關(guān)斷后不會出現(xiàn)尖沖,死區(qū)時間滿足設計要求,驅(qū)動波形不應出現(xiàn)振蕩現(xiàn)象。
判定標準:
符合測試說明,合格;否則不合格。
    (6)主控制芯片供電電壓的測試
用示波器測試主要的控制芯片的供電電壓,捕捉模塊上電過程、關(guān)機的過程以及正常工作情況下芯片供電電壓的波形,芯片供電電壓必須滿足芯片資料的要求,同時最好工作在芯片資料推薦的工作電壓下,任何情況都不能出現(xiàn)超過芯片工作電壓范圍的電壓芯片供電。 3 功率半導體器件的應力測試  測試說明:
功率半導體器件主要包括:DCDC的主功率管、輸出整流二極管、PFC的主功率管、PFC的整流二極管、PFC的夸接二極管等。這些功率半導體器件的正確使用是電源可靠性的重要保證,為保證功率器件的合理使用,需要考慮合理的電流、電壓降額和結(jié)溫降額,故測試應在以下幾個方面注意:
A、滿足電壓降額要求;
B、滿足電流降額要求;
C、滿足溫度降額要求

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